Yoha Solar telah menyelesaikan inspeksi pabrik penguji elektroluminesensi (EL) modul tandem perovskite/silikon dan mengemas sistem untuk dikirim ke sebuah institut penelitian di Shandong, Tiongkok. Peralatan ini akan mendukung penelitian institut tentang sel tandem, dengan fokus khusus pada pencitraan resolusi lapisan dan lokalisasi cacat internal pada modul tandem. Unit ini berangkat dari Wuhan melalui layanan logistik khusus. Setelah pengiriman, teknisi Yoha Solar akan melakukan penempatan, pemasangan, dan komisioning di lokasi.
Teknologi tandem perovskite/silikon adalah salah satu jalur yang paling diawasi untuk efisiensi fotovoltaik yang lebih tinggi, dengan efisiensi sel skala laboratorium sudah melebihi 33%. Namun, struktur bertumpuk juga menciptakan tantangan untuk inspeksi cacat. Karena sel atas dan bawah terintegrasi menjadi satu perangkat, gambar EL konvensional dapat berisi sinyal dari kedua lapisan, sehingga sulit untuk menentukan apakah area gelap berasal dari lapisan perovskite atau lapisan silikon. Bagi para peneliti, mengidentifikasi sumber cacat sangat penting untuk analisis mekanisme kegagalan selanjutnya dan untuk menarik kesimpulan yang dapat diandalkan dalam publikasi akademik.
Penguji ini mengatasi tantangan ini melalui pencitraan resolusi lapisan spektrum ganda. Dilengkapi dengan dua kamera industri yang disesuaikan, masing-masing dikonfigurasi untuk menangkap pita emisi sel atas perovskite atau sel bawah silikon secara independen. Kedua gambar diperoleh dan disimpan secara terpisah, membantu peneliti mengidentifikasi lapisan mana yang mengandung cacat seperti retakan mikro, jari putus, sambungan solder yang buruk, lubang jarum, delaminasi antarmuka, dan degradasi terlokalisasi. Dengan resolusi kamera 20 megapiksel, sistem ini dapat menangkap cacat halus yang terkait dengan retakan yang lebih sempit dari 0,03 mm. Kemampuan ini sangat berguna bagi tim peneliti yang menyelidiki tahap awal degradasi pada antarmuka sel tandem.
Laboratorium universitas memiliki kebutuhan pengujian yang berbeda dari lini produksi massal. Dimensi sampel dapat bervariasi, dari sel setengah terpotong pada satu hari hingga modul prototipe kecil pada hari berikutnya. Penguji ini menyediakan area pengujian yang efektif mencakup panjang dari 250 hingga 900 mm dan lebar dari 250 hingga 700 mm, mengakomodasi sampel berbagai ukuran. Catu daya DC yang dapat diprogram mendukung 0–200 V dan 0–20 A, memenuhi persyaratan injeksi tegangan tinggi untuk pengujian sel tandem. Ruang gelap yang sepenuhnya tertutup menghilangkan kebutuhan untuk membangun ruang gelap terpisah, memungkinkan sistem beroperasi di lingkungan laboratorium standar. Waktu akuisisi gambar dapat disesuaikan dari 100 hingga 700 ms, membuatnya praktis untuk menangkap gambar ratusan sampel dalam sehari.
8
Selain modul tandem, sistem ini mendukung teknologi sel silikon kristal konvensional, termasuk PERC, TOPCon, dan HJT, serta sel perovskite sambungan tunggal. Fleksibilitas ini memungkinkan laboratorium untuk menggunakan satu sistem untuk berbagai tugas penelitian dan memanfaatkan anggaran peralatan mereka secara lebih efisien. Perangkat lunak mendukung pemindaian kode batang, penyimpanan hasil tes yang dikategorikan, dan pembesaran gambar klik ganda untuk memeriksa fitur halus. Fungsi-fungsi ini membantu siswa mendokumentasikan eksperimen, memungkinkan supervisor melacak data historis, dan memungkinkan tim peneliti mengekspor materi gambar untuk makalah akademik.
Pengiriman ini menandai pengiriman lain oleh Yoha Solar ke institut penelitian untuk pengujian terkait perovskite. Dari simulator surya LED keadaan stabil hingga penguji EL/PL terintegrasi dan sistem EL khusus untuk modul tandem, Yoha Solar terus mengembangkan portofolio peralatan inspeksinya sebagai respons terhadap kebutuhan praktis penelitian akademis dan industri fotovoltaik. Setelah sistem tiba di Shandong, teknisi Yoha Solar akan menyediakan pemasangan, komisioning, dan pelatihan operator di lokasi sehingga tim penelitian dapat mulai mengumpulkan data sesegera mungkin. Peralatan ini juga akan menyediakan alat inspeksi penting untuk studi keandalan modul tandem di masa mendatang.